Aigtek高壓放大器在液晶顯示圖像殘留研究中的應用

　　實驗名稱：納米粒子摻雜對響應時間的影響

　　測試設備：高壓放大器、信號發生器、示波器、熱臺控制器、衰減器、探測器等。

　　實驗過程：

　　圖1：VAN盒響應時間的測量裝置

　　響應時間也是影響液晶顯示圖像殘留的重要參數，響應時間越短越不容易產生圖像殘留。實驗中測量響應時間的裝置如圖1所示，光源為632.8nm的紅色激光，光源經過衰減器、可調光闌、偏振片和λ/4波片后成圓偏振光，經過起偏器后成線偏振光，起偏器與檢偏器的光軸方向成90°，熱臺控制液晶盒的溫度為28°C。信號發生器輸出1kHzAC方波信號和DC信號的組合波形，組合波形的周期為2s，經高壓放大器放大后施加在液晶盒上。當電壓超過液晶盒閾值電壓后，探測器會檢測到光強的變化并傳輸到示波器上，通過示波器可以觀察到液晶的動態響應過程。

　　實驗結果：

　　圖2：不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負性LC混合物在VAN盒中的下降和上升時間

　　圖3：不同摻雜濃度與響應時間的關系（a）歸一化透過率與下降時間的關系；（b）歸一化透過率與上升時間的關系；（c）下降時間與摻雜濃度的關系；（d）上升時間與摻雜濃度的關系

　　實驗測得的不同摻雜γ-Fe2O3納米粒子濃度對響應時間的影響如圖2所示，由圖可知納米粒子摻雜對響應時間有一定的影響。圖3（a）和圖3（b）分別給出了下降時間和上升時間的放大圖，其中下降時間為去電壓過程，上升時間為加電壓過程；由圖3（c）和圖3（d）可以看出上升時間和下降時間均隨摻雜濃度的增加先降低后升高，并在摻雜濃度為0.034wt%時達到低值，在摻雜濃度為0.034wt%時，下降時間可以縮短8.11%，上升時間可以縮短15.49%。SRDCV與響應時間隨γ-Fe2O3納米粒子摻雜變化規律一致，說明γ-Fe2O3納米粒子的摻雜有效改善了VAN顯示模式的圖像殘留現象。

　　?高壓放大器推薦：ATA-7015

　　圖：ATA-7015高壓放大器指標參數

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